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    1. 一種采用電流緩沖器的反嵌套密勒補償型LDO

      發布時間:2025-06-21 05:39:56   來源:心得體會    點擊:   
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      張 森,唐 威,商世廣,姚和平,閆冬冬

      (1.西安郵電大學 電子工程學院,西安 710121;
      2.上海電子線路智能保護工程技術研究中心,上海 201202;
      3.上海維安電子有限公司,上海 201202)

      低壓差線性穩壓器(low dropout regulator,LDO)具有結構簡單、低成本、高精度等特點[1],是電源管理電路的重要組成部分,被廣泛應用于手機、筆記本電腦等電子設備中[2]。如今,隨著便攜式電子設備的迅速發展,如何使LDO在全負載電流范圍內具有高增益和高穩定性已成為研究熱點之一[3]。

      在許多情況下,兩級放大器的增益不能滿足設計要求,需要級聯多個增益級,大多數LDO均采用三級放大器的結構[4]。然而,每增加一個增益級都會不可避免地引入零極點,從而造成電路的穩定性下降,此時需要對電路進行頻率補償,實現電路的穩定性控制[5]。

      近年來,針對LDO的頻率補償已有大量文獻進行了詳細分析。文獻[6]采用零極點追蹤補償技術,通過引入一個動態的零點補償輸出極點來提高電路穩定性,但是,這種結構需要額外的晶體管,增加了電路復雜度;
      文獻[7]采用等效串聯電阻(equivalent series resistance, ESR)補償技術,利用輸出電容的等效串聯電阻引入一個左半平面(left half plane, LHP)零點來提高穩定性,但是,這種方法需要消耗較大的面積。除此之外,共源共柵密勒補償[8]、偽ESR補償[9]、反嵌套密勒補償[10]等技術都提高了LDO的穩定性。

      本文針對反嵌套密勒補償(reverse nested miller compensation, RNMC)會引入右半平面(right half plane, RHP)零點,且不適應將PMOS管作為LDO功率級的問題,提出一種采用電流緩沖器的反嵌套密勒補償(reverse nested miller compensation with current buffers, RNMCCB)型LDO,在不引入RHP零點的同時,使用反嵌套密勒補償提高LDO在全負載電流范圍內的穩定性。

      反嵌套密勒補償是三級運算放大器頻率補償的重要方案,它改善了放大器的小信號和大信號特性,如增大帶寬、縮短穩定時間等。由于RNMC的內環密勒電容不加載到輸出端,因而更適合驅動大負載電容[11]。圖1為傳統RNMC的等效小信號電路。

      圖1 RNMC等效小信號電路Fig.1 RNMC equivalent small signal circuit

      RNMC的傳遞函數為

      (1)

      (1)式中:gmi是各級放大器的等效跨導;
      roi是各級放大器的等效輸出阻抗;
      Ci是各級放大器的等效輸出電容;
      Cm1、Cm2是反嵌套密勒電容。由(1)式得出,RNMC會引入一個RHP零點,即Z≈gm3/Cm2,且RHP零點更接近原點,使電路的相位裕度(phase margin, PM)變差,降低電路的穩定性。為了減弱RHP零點對電路穩定性的影響,通常要求gm3?gm1、gm2。RHP零點產生的原因是密勒電容Cm2從運放的輸入端到輸出端存在前饋通路。此外,為了保證電路的負反饋性質,使用RNMC方案的通常是輸入和輸出級為同相增益級,中間級為反相增益級的三級運放[11]。

      2.1 基于電流緩沖器的RHP零點消除技術

      本文RHP零點消除技術如圖2所示。圖2a為傳統密勒補償,密勒電容Cm除了極點分裂外,還會在節點X、Y之間形成前饋通路引入RHP零點[12],即Z≈gmY/Cm。圖2b中,密勒電容Cm通過串聯一個適當阻值的調零電阻Rm,將RHP零點變為LHP零點[13],即Z≈-1/RmCm。類似地,電流緩沖器(current buffer, CB)也可以用來消除RHP零點[14]。圖2c利用電流緩沖器MCG消除前饋通路,并引入一個LHP零點,即Z≈-gmCG/Cm。圖2d利用電流鏡作為反相電流緩沖器[15](inverting current buffer, ICB)與密勒電容Cm串聯,引入一個LHP零點,即Z≈-gmCB/Cm。

      圖2 RHP零點消除技術Fig.2 RHP zero elimation technique

      以上分析表明,采用電流鏡作為反相電流緩沖器與RNMC的外環密勒電容Cm2串聯,既可以消除RHP零點,又可以在保證系統內部負反饋性質的同時,使運放的第2級和第3級都采用反相增益級。

      2.2 基于RNMCCB的LDO主體電路

      本文設計的基于RNMCCB的LDO主體電路如圖3所示,包括第1級高增益跨導運算放大器、第2級共源級放大器和第3級功率級。

      圖3 基于RNMCCB的LDO主體電路Fig.3 LDO main circuit based on RNMCCB

      與使用傳統RNMC方案的運放不同,本文設計的電路第2級和第3級都采用反相增益級,M3、M10構成的電流鏡作為反相電流緩沖器,保證了電路的負反饋性質。

      電容Cm2和反相電流緩沖器M3、M10構成外部補償環,電容Cm1和電流緩沖器M9構成內部補償環。外環密勒電容Cm2主要用于對主極點的壓縮,將第1級運放的輸出極點推向低頻,成為低頻主極點。在M11的負反饋路徑上添加M9構成并聯負反饋,降低共源級放大器的輸出阻抗并使其極點向高頻移動,提高電路的穩定性。

      利用第1級運放固有的共柵級M9和電流鏡M3、M10分別作為電流緩沖器和反相電流緩沖器,分別與密勒電容Cm1和Cm2串聯,消除密勒電容的前饋通路,進而消除RHP零點。引入兩個LHP零點,可以補償由LHP極點引起的相位滯后,增加相位裕度,改善穩定性。電流緩沖器自身引入的零極點均位于高頻,對電路穩定性的影響可以忽略。RNMCCB補償結構不需要額外的晶體管,因此可降低電路復雜度,不引入額外的靜態功耗。

      2.3 穩定性分析

      基于RNMCCB的LDO等效小信號電路如圖4所示,在推導LDO電路的傳遞函數前,再說明一下各參數的含義。本文中,gm1,gm2分別是誤差放大器第1級和第2級的等效跨導;
      gmp是功率管MP的等效跨導;
      gmCB,gmCG分別是反相電流緩沖器M3、M10和電流緩沖器M9的等效跨導;
      roi是各級放大器的等效輸出阻抗;
      Ci是各級放大器的等效輸出電容;
      Cgd是功率管等效寄生電容,用rmi代表各晶體管的輸出阻抗,gm12代表M12的跨導。先做近似處理,假設gmp?gmi;
      COUT?C1、C2、Cm1、Cm2;
      Cm2?Cm1;
      gmiroi?1;
      功率管等效寄生電容Cgd與輸出電容COUT相比,COUT占主導。第1級放大器的輸出阻抗ro1≈rm8‖gmCGrm9rm10,第2級放大器的輸出阻抗ro2≈rm11‖gm12rm12rm13,第3級放大器的輸出阻抗ro3≈RL。

      圖4 基于RNMCCB的LDO的等效小信號電路Fig.4 Equivalent small-signal circuit of LDO based on RNMCCB

      得到該LDO電路的傳遞函數為

      (2)

      低頻增益|ADC|為

      |ADC|=gm1ro1gm2ro2gmPRL

      (3)

      主極點為

      (4)

      兩個次極點和兩個LHP零點分別為

      (5)

      (6)

      (7)

      (8)

      增益帶寬(gain bandwith, GBW)數值GBW為

      (9)

      該LDO的相位裕度為

      (10)

      由(4)—(6)式可以得出,采用RNMCCB補償結構,主次極點顯著分離。

      不同負載電流使得極點P2、P3的位置不同。在重載情況下,LDO的輸出阻抗降低,功率級的等效跨導gmp增大,輸出極點P3向高頻移動。次極點P2在并聯負反饋的作用下也向高頻移動,P2、P3均位于帶寬之外,此時LDO近似為一個單極點系統,可確保電路的穩定性。

      在輕載情況下,次極點P2和輸出極點P3向低頻移動,給穩定性帶來不利影響。由(7)—(8)式得出,LHP零點Z1、Z2的位置只取決于反相電流緩沖器M3、M10和電流緩沖器M9的等效輸入阻抗,靈活性較高。通過對零點Z1、Z2位置的合理設置,使Z1、Z2接近P3、P2的最小頻率,改善相位裕度,提高輕載時電路的穩定性。

      綜合上述對小信號電路的分析可知,本文提出的基于RNMCCB的LDO在全負載電流范圍內均能保證穩定性。

      本文LDO基于0.35 μm CMOS工藝進行設計,采用Cadence軟件中Spectre仿真器對電路進行仿真。COUT為0.1 μF,輸入電壓范圍為2.2~5.5 V,負載電流范圍為1~600 mA。

      圖5展示了VIN為3.5 V、COUT為0.1 μF時,不同負載電流的穩定性仿真曲線??梢钥吹?,在負載電流為600 mA時,環路增益降低,輸出極點向高頻移動,環路增益為90 dB,PM為55°,具有較高的相位裕度;
      在負載電流為1 mA時,主極點和輸出極點向低頻移動,帶寬減小,環路增益為100.7 dB,PM為38°,此時增益交點頻率小于相位交點頻率,系統仍保持穩定。圖5證明本文設計的LDO在全負載電流范圍內具有良好的相位裕度和穩定性。

      圖5 不同負載電流的穩定性仿真曲線Fig.5 Stability simulation curves of different load currents

      圖6展示了VIN為3.5 V、負載電流為1 mA時,不同輸出電容的相位裕度仿真曲線??梢钥吹紺OUT為0.1 μF時,PM為38°;
      COUT為1 μF時,PM為56.3°;
      COUT為5 μF時,PM為83.6°。圖6證明本文設計的LDO在不同輸出電容下均能保證穩定性。

      圖6 不同輸出電容的相位裕度仿真曲線Fig.6 Phase margin simulation curves of different output capacitors

      圖7展示了VOUT為2.5 V、COUT為0.1 μF時,負載電流在1 μs內從1 mA跳變到600 mA的負載瞬態響應曲線。當負載電流從1 mA跳變到600 mA時,輸出電壓的下沖為10.6 mV,響應時間約為5 μs;
      當負載電流從600 mA跳變到1 mA時,輸出電壓的上沖為11.7 mV,響應時間約為7 μs。圖7證明該LDO電路具有良好的負載瞬態特性。

      圖7 LDO負載瞬態響應仿真曲線Fig.7 LDO Load transient response simulation curve

      圖8展示了VOUT為2.5 V時,負載電流從1 mA變化到600 mA的負載調整曲線。從圖8可知,輸出電壓的變化量為116.5 μV,負載調整率為0.004 6%,符合設計要求。

      圖8 負載調整曲線Fig.8 Load regulation curve

      表1為本文設計的LDO與其他相關文獻的LDO電路性能對比。從表1可看出,本文設計的LDO在負載瞬態響應和負載調整率上有更好的性能,并且具有較大的相位裕度,穩定性良好。

      表1 LDO性能對比Tab.1 Comparison of LDO performance

      本文基于0.35 μm CMOS工藝,設計了一種采用電流緩沖器的反嵌套密勒補償型LDO。該電路的第2級和第3級都采用反相增益級,在反嵌套密勒補償的基礎上添加電流緩沖器和反相電流緩沖器,在不引入額外靜態功耗的條件下,保證了電路內部負反饋性質,消除了密勒電容的前饋通路,引入LHP零點,增加相位裕度,改善穩定性。仿真結果表明,RNMCCB提高了LDO在全負載電流范圍內的穩定性,且在不同輸出電容下,均能保證穩定性,同時具有較好的負載瞬態響應和負載調整率。本文設計的LDO可應用于負載變化范圍大的電路系統。

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